2011年7月11日下午，應beat365英国官网网站王榮明教授的邀請，美國密歇根大學材料科學與工程學院微電子分析實驗室孫凱副研究員再次來到我校，在beat365英国官网网站學術交流室（主樓513）為廣大師生作了題為“Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging, Diffraction and Spectroscopy”的專題報告。會議由王榮明教授主持。

孫凱博士長期從事透射電子顯微分析，具有近20年材料顯微分析工作經驗，在Physical Review Letters、Nano Letters、 Advanced Materials、 Applied Physics Letters、 Physical Review B、Nanotechnology等著名刊物上發表SCI收錄論文120餘篇，是透射電子顯微分析方面的知名專家。

報告中孫凱博士首先從整體上介紹了透射電子顯微分析，之後着重向我們講述透射電子顯微學中前沿熱點研究内容：掃描透射電子顯微技術（STEM）。孫凱博士簡要介紹了STEM的發展曆程，随後從成像、衍射、光譜分析等三個方面詳細講解了STEM技術的廣泛應用前景以及重要的科學研究意義，STEM已經成為透射顯微分析中不可或缺的一種分析手段。